SCAN Damien Aureau

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Damien Aureau, Institut Lavoisier, Université de Versailles Saint-Quentin en Yvelines, Université Paris-Saclay, 78035 Versailles, donnera un séminaire :

« Thin film chemical analysis improvements using gas cluster ion beam »

Le vendredi 27 Octobre 2017 à 11h, salle 774 du bâtiment Lavoisier