Plateforme RX

La plate-forme rayons X compte 3 appareils répartis sur 2 sites de l’UFR de Chimie.
Dans le Bâtiment Lavoisier, au 8ème étage, se trouve un diffractomètre X’pert Pro de la marque Panalytical, consacré à l’étude de poudres. Il est équipé d’un tube de cobalt et d’un détecteur multi-canaux X’celerator. Ce détecteur permet d’obtenir rapidement des mesures de qualité et offre ainsi le possibilité de faire des analyses in situ, telles que des mesures en température via la chambre Anton PAAR HTK 1200N (Température maximale 1200 °C).

Le diffractomètre Empyrean et le fluorimètre Epsilon 3xl, sont de la marque Panalytical et situés au 7ème étage du bâtiment Lamarck.
Le fluorimètre est équipé d’un tube argent et sa tension maximale est de 50 kV. Dix emplacements d’échantillon sont disponibles sur cet appareil. De multiples méthodes de préparation d’échantillons ont été établies au sein de la plate-forme (perle, pastilles, couches minces) ce qui permet d’analyser un grand éventail de matériaux et de quantifier précisément les éléments en présence.

L’Empyrean est un diffractomètre multifonctions dédié aux échantillons polycristallins. Un tube de cuivre est installé ainsi qu’un détecteur multi-canaux dernière génération (le PIXcel). Les nombreuses optiques et porte-échantillons permettent de réaliser les mesures suivantes : texture et contraintes résiduelles, réflectométrie sur couche mince, tomographie, diffusion aux petits angles (SAXS), épitaxie, micro-diffraction (analyse locale sur des zones de 500 µm x 500 µm), étude d’échantillons toxiques ou sensibles à l’air, etc...
Des analyses PDF (Pair Distribution Function) peuvent aussi être réalisées sur l’Empyrean avec un tube argent et un détecteur à scintillation.

Ainsi, les matériaux analysés peuvent être des métaux, des céramiques, des polymères ou encore des argiles, et se présenter sous forme de poudres (nano ou micrométriques), de massifs ou de couches minces. Il sera alors possible d’identifier les phases en présence (globalement ou localement), de caractériser la microstructure (texture, taille des cristallites, défauts), d’estimer l’épaisseur, la densité et la rugosité d’une couche mince, ou encore de faire de la résolution structurale.

 

Poster de présentation  Plaquette 2015  Règlement intérieur

 

Contact: Sophie NOWAK